机译:缺陷诱导声子散射,用于调节SiO2薄膜的晶格热导率
机译:Bi_2Te_3薄膜晶格热导中范德华力引起的声子散射
机译:极低的晶格导热系数和点缺陷在Ag掺杂(SNSE)(1-X)(SNS)(X)化合物(Vol 29,PG 5344,2017)中的声子缺陷散射散射
机译:表面声子-极化子引起的SiO2薄膜的面内热导率的测量
机译:声子通过半导体界面,薄膜和超晶格进行热传输。
机译:基于声子散射机理的超薄体FD SOI MOSFET导热特性研究
机译:极低的晶格导热系数和Ag掺杂(SNSE)1x(SNS)X化合物中子宫子的点缺陷散射
机译:薄4He薄膜中phonon-phonon,phonon-Roton和Roton-Roton散射的导热系数和粘度